Description
Ce livre prsente une tude fondamentale des effets de la charge lectrique lors dirradiation dchantillons de films minces de polymres organiques isolants par des ions de csium. Le but de ce travail est de mieux comprendre les modifications des proprits physico-chimiques induites, dans les films de polymres isolants soumis au profilage ionique en spectromtrie de masse dions secondaires (SIMS). Ltude des distributions nergtiques des ions secondaires prouve que, laccumulation de la charge lectrique la surface des chantillons provoque le claquage dilectrique des films minces de polymres isolants, pendant la pulvrisation dans la phase transitoire. Les rsultats obtenus par spectroscopie de photolectrons X (XPS) montrent la cration dune phase conductrice, permettant ultrieurement la neutralisation de la charge lectrique accumule travers des canaux conducteurs crs dans le film. Cette phase conductrice est constitue principalement dlots de carbone et de clusters de csium mtalliques. Le claquage dilectrique dgrade le film de polymre en de de la surface et il fausse linformation molculaire obtenue par lanalyse SIMS, dans le rgime stationnaire. Fouad Wahoud est n Homs (Syrie) en 1977. Il estingnieur en physique des matriaux depuis l’anne2000. Il a prepar un mastre recherche en sciencesdes matriaux et nano objet l’Universit Paris XI(France) en 2006. Fouad Wahoud a obtenu le gradede docteur en sciences de l’ingnieur del’Universit catholique de Louvain (Belgique) en2013.
