Description
Das Buch fhrt in die mikroskopische Strukturanalyse von Werkstoffen ein, vor allem von Metallen, aber auch Halbleitern, Keramiken, Polymeren und Verbundwerkstoffen. Die Methoden werden systematisch errtert, wobei neben der Licht- und Rasterelektronenmikroskopie die Transmissionselektronenmikroskopie sowie die Spektroskopie im Mittelpunkt stehen. Die 3. Auflage wurde grndlich bearbeitet und aktualisiert. Geeignet fr Studierende der Werkstoffwissenschaften ebenso wie fr Naturwissenschaftler und Ingenieure, die einen Einstieg in das Gebiet suchen. Prof. em. Dr.-Ing. Dr. h.c. Erhard Hornbogen studierte Metallkunde an der TH-Stuttgart. Nach Forschung (US Steel, Monroeville, USA; MPI und TU Stuttgart) Professur fr Metallphysik in Gttingen. 1968-1995 Professor fr Werkstoffwissenschaft an der Universitt Bochum. Forschungsschwerpunkte: Einfluss der Mikrostruktur auf Werkstoffeigenschaften; Bedeutung von Werkstoffen in Technik und Gesellschaft. Autor mehrerer Lehrbcher 1 Systematik und Methoden zur Kennzeichnung des Aufbaus der Werkstoffe …………………………………………………………………………………….. 1.1 Einleitung……………………………………………………………………………… 1.2 Systematik des Gefges…………………………………………………………. 1.3 Verschiedene optische Verfahren zur Analyse des Aufbaus der Werkstoffe ……………………………………………………………………………….. 1.3.1 Lichtmikroskopie…………………………………………………………… 1.3.2 Transmissionselektronenmikroskopie (TEM) ……………………. 1.3.3 Rastertransmissionselektronenmikroskopie (STEM) ………….. 1.3.4 Feldionenmikroskopie (FIM) und Atomsondenspektroskopie 1.3.5 Emissionsmikroskopie……………………………………………………. 1.3.6 Elektronenstrahlmikrosonde (ESMA) ………………………………. 1.3.7 Rasterelektronenmikroskop (REM)………………………………….. 1.3.8 Focused Ion Beam (FIB) ………………………………………………… 1.3.9 Rastersondenmikroskopie (SPM) …………………………………….. 1.3.10 Computertomographie (CT) ………………………………………….. 1.4 Nanostrukturen ………………………………………………………………… 1.5 Kombination der Untersuchungsverfahren…………………………….. Literatur ……………………………………………………………………………….. 2 Herstellung von Proben………………………………………………………. 2.1 Einleitung…………………………………………………………………………. 2.2Vorzerkleinern…………………………………………………………………….. 2.3 Vordnnen ………………………………………………………………………….. 2.4 Dnnpolieren ………………………………………………………………………. 2.5 Ionendnnen ……………………………………………………………………….. 2.6 Zielprparation…………………………………………………………………….. 2.7 Focused Ion Beam……………………………………………………………….. 2.8 Einfhrung der Probe in den Probenhalter ………………………………. Literatur ………………………………………………………………………………….. 3 Elektronenbeugung……………………………………………………………….. X Inhalt 3.1 Einleitung……………………………………………………………………………. 3.2 Benennung von Kristallstrukturen……………………………………………. 3.3 Auswertung der Beugungsbilder …………………………………………….. 3.4 Simulation von Beugungsbildern …………………………………………….. 3.5 Intensitt der Reflexe……………………………………………………………. 3.6 Kikuchi-Linien…………………………………………………………………….. 3.7 Weitere Information aus Beugungsbildern………………………………… 3.8 Konvergente Beugung …………………………………………………………… 3.9 Beugung an Glsern und Quasikristallen …………………………………. Literatur …………………………………………………………………………………… 4 Durchstrahlung
