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Angewandte Oberflchenanalyse mit SIMS Sekundr-Ionen-Massenspektrometrie AES Auger-Elektronen-Spektrometrie XPS Rntgen-Photoelektronen-Spektrometrie
0Original price was: $98.00.$9.00Current price is: $9.00.Angewandte Oberflchenanalyse mit SIMS Sekundr-Ionen-Massenspektrometrie AES Auger-Elektronen-Spektrometrie XPS Rntgen-Photoelektronen-Spektrometrie, J. A. Breznak, 9783642701788